典型文献
通过优化环境应力筛选提高电子产品可靠性
文献摘要：
本文对国内环境应力筛选相关的标准进行了研究,通过理论计算和实际产品的试验验证两个维度对环境应力筛选进行了优化.结合我单位电路板的实际情况,研究了组件级别温度冲击中温度保持时间,温变率,温度循环次数等因素.通过对几组电路板组件温度冲击筛选度的计算,提出了最优温度循环次数的试验设计方法.通过两箱法对我公司的通信电子产品进行试验,证明了10个循环次数的合理性.整机的环境应力筛选中参照了可靠性鉴定试验的综合应力剖面,进行了电压拉偏和三次重启再通电.在一个温度循环4 h不变的前提下,考虑到高温通电会导致产品升温时间变短,因此在温度剖面中适当增加了低温保持时间.后续整机的可靠性鉴定试验一次性通过,同样证明了环境应力筛选优化的有效性.
文献关键词：
环境应力筛选;温度冲击;筛选度;可靠性
中图分类号：
作者姓名：
王道震;徐建生;汪澜;刘红波;张宪坤
作者机构：
天津七一二通信广播股份有限公司,天津 300462;驻天津地区第一军事代表室,天津 300202
文献出处：
引用格式：
[1]王道震;徐建生;汪澜;刘红波;张宪坤-.通过优化环境应力筛选提高电子产品可靠性)[J].环境技术,2022(01):65-68,79
A类：
电压拉偏
B类：
优化环境,环境应力筛选,电子产品,产品可靠性,选相,电路板,温度冲击,击中,温变,变率,温度循环,循环次数,几组,筛选度,试验设计方法,两箱,整机,选中,可靠性鉴定试验,综合应力,应力剖面,重启,通电,温通,升温时间,变短,温度剖面,筛选优化
AB值：
0.33495
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
