典型文献
电子产品高加速寿命试验的实践及案例分析
文献摘要：
为了快速地暴露产品的薄弱环节,在高加速寿命试验(HALT)过程中会施加远超过产品规定极限的应力,也就是说高加速寿命试验属于"过试验",其结果存在不确定性.最好的情况是在短时间内激发出在预期应用环境下长期使用时可能出现的故障模式,凸显其对提高产品可靠性的不可替代的作用.最坏的情况是激发出较多的非关联故障模式,分析处置这些故障耗时费力,影响进度,而且对这样的故障模式进行改进将造成产品"过设计",对提高可靠性无实际意义.HALT的不确定性在于其效果在很大程度上取决于试验团队所具备的经验、历史数据和对实施细节的考虑.根据实际工作经验,详细地分析了HALT试验准备﹑ 试验实施﹑ 故障分析和产品改进的过程和方法,分享了实际案例,具有工程参考价值.
文献关键词：
可靠性试验;高加速寿命试验;故障模式;裕度;应力
中图分类号：
作者姓名：
康京山;李科;任伟光;刘垚鑫
作者机构：
中国电子科技集团公司第五十四研究所, 河北 石家庄 050081
文献出处：
引用格式：
[1]康京山;李科;任伟光;刘垚鑫-.电子产品高加速寿命试验的实践及案例分析)[J].电子产品可靠性与环境试验,2022(06):25-32
A类：
HALT
B类：
电子产品,高加速寿命试验,远超过,过产,也就是说,应用环境,故障模式,产品可靠性,关联故障,分析处置,费力,高可靠性,实际意义,历史数据,试验实施,故障分析,产品改进,实际案例,可靠性试验,裕度
AB值：
0.247244
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