典型文献
基于SEM的FPGA抗单粒子翻转技术研究及验证
文献摘要：
随着FPGA片内纠检错技术的发展,Xilinx公司在旗下的SRAM型FPGA上应用了一种名为软错误修复(SEM)的加固技术,大幅提升了配置RAM的单粒子软错误检测和修复效率.但这种片内加固技术本身需要使用一定的逻辑和存储资源,同样也有发生单粒子软错误的风险.本文分析了应用SEM加固技术的必要性和存在的问题,提出一套基于SEM的FPGA抗单粒子翻转解决方案,并给出了在XC7K410T型FPGA上的试验验证结果,验证了加固技术的有效性.
文献关键词：
单粒子翻转;SRAM型FPGA;软错误修复;SEM技术
中图分类号：
作者姓名：
孙逸帆;白亮;双小川;田文波;游红俊
作者机构：
上海航天电子技术研究所,上海 201109;上海航天智能计算技术重点实验室,上海 201109
文献出处：
引用格式：
[1]孙逸帆;白亮;双小川;田文波;游红俊-.基于SEM的FPGA抗单粒子翻转技术研究及验证)[J].原子能科学技术,2022(04):742-748
A类：
软错误修复,XC7K410T
B类：
FPGA,单粒子翻转,检错,Xilinx,旗下,SRAM,加固技术,错误检测,修复效率,存储资源
AB值：
0.206143
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