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核电厂DCS板卡银迁移原因分析及抑制的方法研究
文献摘要：
核电厂DCS板卡银迁移是集成电路装置可靠性失效的重要原因之一,针对当前DCS板卡银迁移故障频发、抑制方法空缺的情况,本文充分分析了银迁移产生的机理、DCS 板卡银迁移的原因分析及定位,从软件、硬件层面,提出了银迁移的抑制方法及缓解措施,并利用寿命方程,通过HAST(高加速温度和湿度压力测试)试验加以验证.结果表明,提出的涂覆三防漆可有效抑制银迁移进程、可编程逻辑控制模块(FPGA)软件升级可有效控制银迁移的故障后果,对板卡的响应及功能不会产生影响,满足寿命要求,为核电厂的安全稳定运行提供了保障,具有实际应用价值.
文献关键词：
数字化控制系统;逻辑优选卡;银迁移
中图分类号：
作者姓名：
王志武;张翔;马蜀;马磊;吴建文
作者机构：
苏州热工研究院有限公司设备管理中心,广东 深圳,518000
文献出处：
引用格式：
[1]王志武;张翔;马蜀;马磊;吴建文-.核电厂DCS板卡银迁移原因分析及抑制的方法研究)[J].核科学与工程,2022(03):579-583
A类：
HAST,逻辑优选卡
B类：
核电厂,DCS,板卡,银迁移,集成电路,抑制方法,空缺,缓解措施,高加速,压力测试,涂覆,三防漆,可编程,编程逻辑控制,控制模块,FPGA,软件升级,安全稳定运行,数字化控制系统
AB值：
0.267482
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