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两种功率驱动芯片的可靠性提升研究
文献摘要：
随着两种功率驱动芯片(2110与4424)在开关电源中的广泛应用,高低位驱动控制芯片2110异常损坏的现象时有发生,低位驱动控制芯片4424输出并联使用时也会发生损坏现象.本文主要针对这两种功率驱动芯片在使用中遇到的故障,通过搭建验证板测试及电路分析,得出两种功率驱动芯片损坏的原因及工况.最终给出了2110功率驱动芯片的推荐使用方法,包括美国IR公司的IR2110和中国宇翔公司的BH2110D;也给出了欧洲STM公司的RHRPM4424功率驱动芯片在BOOST变换器、BUCK变换器和桥式变换器三种不同拓扑电路中的应用分析.
文献关键词：
功率驱动芯片;2110;4424;开关电源
中图分类号：
作者姓名：
史晨璐;马奎安
作者机构：
中国空间技术研究院西安分院,陕西 西安 710000
文献出处：
引用格式：
[1]史晨璐;马奎安-.两种功率驱动芯片的可靠性提升研究)[J].电子元器件与信息技术,2022(09):31-34,38
A类：
功率驱动芯片,BH2110D,RHRPM4424
B类：
可靠性提升,提升研究,开关电源,低位,驱动控制,控制芯片,时有发生,电路分析,使用方法,IR2110,STM,BOOST,变换器,BUCK,桥式,拓扑电路
AB值：
0.213785
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