典型文献
一种片上嵌入式Flash测试接口的设计
文献摘要：
Flash存储器具有功耗低、存储容量大、体积小等特点,被广泛应用于嵌入式系统.目前Flash存储器多数使用串行接口进行擦写测试,存在着测试效率低、测试成本高等问题.针对以上问题,设计并实现了一种片上嵌入式Flash的测试接口.结合片上嵌入式Flash的接口特点和时序要求,设计了基于多线SPI的测试接口,并在确保稳定性的情况下实现了对多块Flash存储器并行测试的设计,提高了测试速度.通过NCverilog仿真结果表明,该设计有效缩短了测试时间,达到了测试要求,并成功应用于一款32位浮点微处理器中.
文献关键词：
Flash;测试接口;测试速度;微处理器
中图分类号：
作者姓名：
钱劲宇;强小燕;屈凌翔
作者机构：
中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡214072
文献出处：
引用格式：
[1]钱劲宇;强小燕;屈凌翔-.一种片上嵌入式Flash测试接口的设计)[J].电子技术应用,2022(10):31-35
A类：
NCverilog
B类：
Flash,测试接口,存储器,有功,功耗,存储容量,体积小,嵌入式系统,串行接口,擦写,测试效率,试成,多线,SPI,多块,并行测试,测试速度,测试时间,成功应用,浮点,微处理器
AB值：
0.364865
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