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中央处理器安全测试与自修复技术研究
文献摘要：
中央处理器在工业控制领域起到重要作用,其正常工作是工业控制中的重要稳定运行保障.主要研究中央处理器的安全测试与 自修复相关技术.从故障注入到故障测试再到 自修复,对相关安全技术作了比较介绍与分类总结,包括硬软件的故障注入技术、扫描链、内建自测试、TSV等故障测试方法,以及以替代修复和容错自修复技术.最后提出中央处理器安全协同模型,对各个技术的基本原理和创新点做出归纳总结,为未来中央处理器的故障处理技术发展提供安全设计全参考,在保证安全和性能的同时降低成本和能耗,助力工控设备安全稳定运行.
文献关键词：
中央处理器;故障注入;安全测试;自修复;安全协同模型
中图分类号：
作者姓名：
周永忠;洪晟;姜义初;顾爽;李雷;刘亮;高欣妍;阴宏伟;岳天羽
作者机构：
北京智芯微电子科技有限公司数字芯片设计中心,北京100192;北京航空航天大学 网络空间安全学院,北京100191;北京航空航天大学未来空天技术学院/高等理工学院,北京100191
文献出处：
引用格式：
[1]周永忠;洪晟;姜义初;顾爽;李雷;刘亮;高欣妍;阴宏伟;岳天羽-.中央处理器安全测试与自修复技术研究)[J].电子技术应用,2022(09):39-43,49
A类：
处理器安全,安全协同模型
B类：
中央处理器,安全测试,自修复,修复技术,工业控制领域,运行保障,复相,故障注入,故障测试,安全技术,分类总结,扫描链,内建,自测试,TSV,替代修复,容错,创新点,故障处理技术,安全设计,全参考,降低成本,工控设备,设备安全,安全稳定运行
AB值：
0.292306
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