典型文献
一种航天接口芯片静电防护电路的软击穿现象
文献摘要：
接口阻抗测试是航天产品中判断产品状态是否正常的常用方法.在航天产品应用中,通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效.针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常,但功能正常的现象进行分析.在元器件失效分析的基础上,定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路,从而建立对应的电路模型,从理论上分析芯片静电损伤的现象.分析表明:该芯片在被静电打击时,其静电防护电路中一个NMOS管受损,但该电路保护了芯片的功能电路,被击穿的NMOS管等效为一个电阻,因此导致阻抗测试异常,但芯片功能电路未受损的现象,为静电软击穿现象.且可认为该芯片在受静电影响后并未失效,相关电路仍具有正常工作的能力.即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件.
文献关键词：
静电防护电路;阻抗测试;静电软击穿;失效分析
中图分类号：
作者姓名：
马有为;温兆伦;李猛;陈天培;王楠
作者机构：
上海航天控制技术研究所·上海·201109
文献出处：
引用格式：
[1]马有为;温兆伦;李猛;陈天培;王楠-.一种航天接口芯片静电防护电路的软击穿现象)[J].飞控与探测,2022(05):52-62
A类：
静电防护电路,静电软击穿
B类：
接口芯片,阻抗测试,航天产品,常用方法,产品应用,LVDS,发送,元器件失效,失效分析,电路模型,NMOS,电路保护,异常现象,芯片失效,充分条件
AB值：
0.182297
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