典型文献
渐开线花键副齿侧过盈配合分析与试验验证
文献摘要：
渐开线花键副齿侧过盈配合产生的接触应力和变形会对零件自身精度和使用寿命造成影响,为了确定合理的过盈量,首先,对花键副齿侧过盈的几何原理进行了研究,推导了齿侧过盈径向位移和周向位移的计算公式;其次,用有限元仿真验证了几何原理的准确性;最后,根据齿侧过盈几何原理,对齿毂花键齿侧过盈量为0.002 0,0.002 2及0.002 8 mm产生的周向应力-应变进行了测试,其有限元仿真结果与试验测试结果误差分别为4.9％,7.6％和7.1％.研究结果表明理论分析符合实际情况,提出的计算方法为渐开线花键副齿侧过盈参数设计提供了理论依据.
文献关键词：
渐开线花键;过盈配合;应变测试;齿侧过盈
中图分类号：
作者姓名：
胡平果;刘凯;陈晓峰;马朝锋;韩川波
作者机构：
蜂巢传动科技河北有限公司传动研究院 保定,071000;西安理工大学机械与精密仪器工程学院 西安,710048
文献出处：
引用格式：
[1]胡平果;刘凯;陈晓峰;马朝锋;韩川波-.渐开线花键副齿侧过盈配合分析与试验验证)[J].振动、测试与诊断,2022(05):1022-1028
A类：
齿侧过盈
B类：
渐开线花键副,过盈配合,配合分析,接触应力,零件,造成影响,过盈量,几何原理,径向位移,有限元仿真,仿真验证,键齿,周向应力,试验测试,明理,符合实际,参数设计,应变测试
AB值：
0.184106
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