典型文献
电子元器件的老化测试及最新设备研究
文献摘要：
随着现代化电子科学技术的迅猛发展,电子产品细致化程度不断升高,结构逐渐细化、工序逐渐增加、制造工艺逐渐复杂,由此在生产制造环节埋下了一系列隐患.一个良好的电子产品,不仅需要在性能层面具备较高的指标,同时还需要拥有较好的稳定性能,当前国内外普遍应用高温老化工艺,提高电子元器件的可靠性以及稳定性.该文主要针对电子元器件展开的老化测试工作进行论述,然后基于此,对新型设备展开研究,以供参考.
文献关键词：
电子元器件;老化测试;最新设备;研究
中图分类号：
作者姓名：
李斌;彭勇
作者机构：
东莞职业技术学院电子信息学院 广东东莞 523808
文献出处：
引用格式：
[1]李斌;彭勇-.电子元器件的老化测试及最新设备研究)[J].科技资讯,2022(13):19-21
A类：
最新设备
B类：
电子元器件,老化测试,电子科,电子产品,制造工艺,生产制造,埋下,稳定性能,高温老化,测试工作,新型设备
AB值：
0.231944
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