典型文献
超声扫描技术在MLCC质量控制及故障定位中的应用
文献摘要：
超声扫描技术是一种对电子元器件的无损检测分析，通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸以及缺陷方位。论文介绍了超声扫描技术的原理及特点，举例说明了超声扫描技术在MLCC生产质量控制及失效分析故障定位中的应用，对MLCC的有效性检测及故障失效分析提供了指导作用。
文献关键词：
MLCC;失效分析故障定位;质量控制;超声扫描技术
中图分类号：
作者姓名：
李冬梅;江孟达;向勇;吴炜坚;林显竣
作者机构：
广东微容电子科技有限公司 广东 深圳 518000
文献出处：
引用格式：
[1]李冬梅;江孟达;向勇;吴炜坚;林显竣-.超声扫描技术在MLCC质量控制及故障定位中的应用)[J].数字化用户,2022(43):82-84
A类：
超声扫描技术,声阻抗差,失效分析故障定位
B类：
MLCC,电子元器件,无损检测,检测分析,对比度,原理及特点,举例说明,生产质量控制
AB值：
0.132736
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
