典型文献
变应力条件下低压断路器剩余电寿命预测
文献摘要:
低压断路器开断过程中电弧对触头的侵蚀是引起触头系统失效的主要原因,实际服役过程中低压断路器承受的电流应力是不断变化的,电流应力不同电弧侵蚀程度也不同.该文研究触头质量损失和燃弧特征量(电弧电量、焦耳积分和燃弧能量)的关系,根据不同的电弧侵蚀机理划分电流范围,利用分段函数描述电弧侵蚀因子与电流应力的关系,建立不同电流范围内电弧侵蚀因子数学模型;利用分段函数描述平均触头质量损失率与电流应力的关系,建立不同电流范围内平均触头质量损失率数学模型;根据不同的现场信息,提出3种变应力条件下低压断路器的剩余电寿命预测方法;通过不同电流应力下电寿命试验来模拟低压断路器触头系统的性能变化,由先验信息确定预测模型参数,并对同批次低压断路器进行变应力条件下电寿命验证试验,证明剩余电寿命预测模型的准确性,为低压断路器可靠性评估提供理论基础.
文献关键词:
低压断路器;触头电磨损;电流应力;电弧侵蚀因子;剩余电寿命
中图分类号:
作者姓名:
赵成晨;李奎;胡博凯;马典良;赵伟焯;张广智
作者机构:
省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学),天津市北辰区 300401;河北省电磁场与电器可靠性重点实验室(河北工业大学),天津市北辰区 300401;上海良信电器股份有限公司,上海市浦东新区 200137
文献出处:
引用格式:
[1]赵成晨;李奎;胡博凯;马典良;赵伟焯;张广智-.变应力条件下低压断路器剩余电寿命预测)[J].中国电机工程学报,2022(21):8004-8015,中插30
A类:
剩余电寿命,电弧侵蚀因子,触头电磨损
B类:
应力条件,低压断路器,开断,触头系统,服役,中低压,电流应力,侵蚀程度,特征量,电量,焦耳,燃弧能量,侵蚀机理,分段函数,质量损失率,内平,寿命预测方法,电寿命试验,性能变化,先验信息,验证试验,寿命预测模型,可靠性评估
AB值:
0.160753
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