典型文献
硅基光开关切换延时线芯片延时测量稳定性研究
文献摘要：
硅基光开关切换延时线芯片以其结构简单、瞬时带宽大等优点在微波光子波束形成领域中有着很好的应用前景,但其高精度延时测量还存在很多难点,影响片上延时测量稳定性的因素亟待研究.通过对基于光矢量网络分析的延时测试链路、参考直波导和延时线的延时稳定性进行对比测试,实验分析了芯片延时测量稳定性的影响因素.结果表明,芯片插损、输入/输出光栅耦合器封装和延时线内部残余的马赫-曾德尔干涉都将使硅基光开关切换延时线芯片的片上延时测量稳定性变差.
文献关键词：
集成光学;光开关切换延时线芯片;光矢量网络分析;延时测量;稳定性
中图分类号：
作者姓名：
史上清;刘鹏程;恽斌峰
作者机构：
东南大学先进光子学中心,江苏南京210096
文献出处：
引用格式：
[1]史上清;刘鹏程;恽斌峰-.硅基光开关切换延时线芯片延时测量稳定性研究)[J].光学学报,2022(20):106-111
A类：
光开关切换延时线芯片,光矢量网络分析
B类：
硅基,延时测量,测量稳定性,稳定性研究,结构简单,瞬时带宽,宽大,微波光子,子波,波束形成,多难,延时测试,链路,波导,对比测试,插损,光栅耦合器,封装,马赫,集成光学
AB值：
0.209934
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