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基于多次回波数值模拟的涂层缺陷太赫兹无损检测
文献摘要：
当涂层粘接缺陷厚度过小时,缺陷的太赫兹时域光谱信号与基体反射信号产生混叠,难以从主脉冲信号中获取有效的粘接缺陷特征.通过构建基于传输矩阵法的薄涂层粘接缺陷太赫兹传播仿真模型,对太赫兹波在涂层粘接缺陷结构中的传播特性进行数值仿真分析.结合仿真结果和实际检测信号,提出基于多次回波特征的涂层粘接缺陷识别方法,利用缺陷太赫兹信号偏度特征进行成像,准确识别厚度为50μm和80 μm的涂层样件中预置的10 μm和15 μm粘接缺陷,平均识别准确率达95.2％.
文献关键词：
测量;涂层;粘接缺陷;偏度成像;太赫兹时域光谱;无损检测
中图分类号：
作者姓名：
顾健;任姣姣;张丹丹;张霁旸;李丽娟
作者机构：
长春理工大学光电工程学院,吉林长春130022;长春理工大学中山研究院,广东中山528437
文献出处：
引用格式：
[1]顾健;任姣姣;张丹丹;张霁旸;李丽娟-.基于多次回波数值模拟的涂层缺陷太赫兹无损检测)[J].光学学报,2022(15):103-110
A类：
偏度成像
B类：
波数,太赫兹无损检测,当涂,粘接缺陷,太赫兹时域光谱,反射信号,信号产生,主脉,脉冲信号,缺陷特征,传输矩阵法,太赫兹波,缺陷结构,传播特性,数值仿真分析,检测信号,回波特征,缺陷识别,准确识别,样件,预置,识别准确率
AB值：
0.274635
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