典型文献
基于BIT设计的电子设备验证平台
文献摘要：
机内测试(BIT)是应用于复杂电子系统中非常重要的一种自测试手段,是测试性设计实现的重要保证.嵌入式测试能力的好坏直接关系到系统或设备内部检测和隔离故障的能力优劣.针对电子设备中BIT与功能设计脱节、测试总线资源不足、电子设备难以直接嵌入测试等难题,本文提出基于BIT设计的电子设备验证平台的构建方案,并结合典型案例实物进行BIT设计和电子设备验证平台的搭建,对典型案例实物完成了测试性分析、BIT设计、故障注入系统的设计、综合诊断和性能验证,从而提高电子设备的可测试性和维修性、简化测试和维修设备、提高测试和维修效率、为电子设备的综合诊断和健康管理提供案例性能验证支撑.
文献关键词：
BIT;测试性;故障注入;综合诊断;健康管理
中图分类号：
作者姓名：
靳为东;赵杰;申双荣
作者机构：
中电科思仪科技股份有限公司,山东青岛,266555
文献出处：
引用格式：
[1]靳为东;赵杰;申双荣-.基于BIT设计的电子设备验证平台)[J].电子制作,2022(14):83-85
A类：
测试性分析
B类：
BIT,电子设备,验证平台,机内测试,电子系统,自测试,试手,测试性设计,设计实现,测试能力,好坏,隔离故障,功能设计,总线,构建方案,故障注入,综合诊断,性能验证,可测,维修性,维修设备,维修效率,供案
AB值：
0.345659
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