典型文献
存储器可测性设计的专利技术综述
文献摘要：
存储器可测性设计技术概述
可测性设计,简称DFT(Design for Testability),是以提高可测试性为目的进行的设计.DFT技术包括设计规则和约束,旨在通过提高内部测试的可控制性和可观察性来提高设计的可测试性.DFT的一种公知形式是电平敏感扫描设计(LSSD),它涉及修改设备的内部存储元件,以便在测试模式下,这些存储元件形成移位寄存器的各个阶段,以扫描测试数据激励,并扫描出测试响应.
文献关键词：
中图分类号：
作者姓名：
徐菲;张喆
作者机构：
国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心
文献出处：
引用格式：
[1]徐菲;张喆-.存储器可测性设计的专利技术综述)[J].中国科技信息,2022(01):17-18
A类：
Testability,LSSD
B类：
存储器,可测性设计,专利技术,技术综述,设计技术,技术概述,DFT,Design,测试性,设计规则,和约,内部测试,控制性,可观察性,电平,存储元件,测试模式,移位寄存器,各个阶段,测试数据,描出
AB值：
0.404325
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