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基于FPGA的NAND FLASH坏块表的设计与实现
文献摘要：
在现代电子设备中,越来越多的产品使用NAND FLASH芯片来进行大容量的数据存储,而且使用FPGA作为核心处理芯片与NAND FLASH直接交联.根据NAND FLASH的特点,需要识别NAND FLASH芯片的坏块并进行管理.FPGA对坏块的管理不能按照软件的坏块管理方式进行.本文提出了一种基于FPGA的NAND FLASH芯片坏块表的设计方法,利用FPGA中RAM模块,设计了状态机电路,灵活地实现坏块表的建立、储存和管理,并且对该设计进行测试验证.
文献关键词：
NAND FLASH;FPGA;坏块;坏块检测
中图分类号：
作者姓名：
曾锋;徐忠锦
作者机构：
北京青云航空仪表有限公司,北京 101399
文献出处：
引用格式：
[1]曾锋;徐忠锦-.基于FPGA的NAND FLASH坏块表的设计与实现)[J].电子产品世界,2022(12):27-29,73
A类：
坏块检测
B类：
FPGA,NAND,FLASH,现代电子,电子设备,产品使用,大容量,数据存储,接交,交联,RAM,状态机,测试验证
AB值：
0.21308
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