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激光惯性约束聚变X射线诊断用多通道Kirkpatrick-Baez成像系统研究进展
文献摘要：
在激光惯性约束聚变(ICF)研究中,涉及X射线时间、空间和能谱信息的等离子体诊断能够为数值模拟提供关键的实验数据支撑,有效推进对ICF关键物理问题的认识.以Kirkpatrick-Baez(KB)结构为代表的多通道掠入射系统是实现高分辨X射线时空成像的重要手段,在ICF诊断研究中有着广泛的应用.主要介绍了高分辨多通道KB成像系统的发展历史,梳理和分析了 KB系统研制的瓶颈问题,在此基础上重点展示了国内近年来在基于多层膜光学的多通道KB诊断系统研制方面取得的研究进展.随着精密薄膜器件和掠入射X射线光学集成等关键技术的突破,多通道多层膜KB成像系统已经在我国ICF诊断研究中得到广泛应用,有力保障了国内ICF研究单位相关物理实验的开展.
文献关键词：
X射线光学;激光惯性约束聚变;等离子体诊断;X射线成像;Kirkpatrick-Baez显微镜;多通道;X射线多层膜
中图分类号：
作者姓名：
伊圣振;司昊轩;黄秋实;张众;蒋励;齐润泽;张哲;王占山
作者机构：
同济大学物理科学与工程学院先进微结构材料教育部重点实验室,精密光学工程技术研究所,上海200092
文献出处：
引用格式：
[1]伊圣振;司昊轩;黄秋实;张众;蒋励;齐润泽;张哲;王占山-.激光惯性约束聚变X射线诊断用多通道Kirkpatrick-Baez成像系统研究进展)[J].光学学报,2022(11):102-113
A类：
B类：
激光惯性约束聚变,多通道,Kirkpatrick,Baez,成像系统,ICF,等离子体诊断,拟提,有效推进,物理问题,KB,掠入射,空成,诊断研究,系统研制,瓶颈问题,多层膜,诊断系统,薄膜器件,位相,物理实验
AB值：
0.249685
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