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偏光片细微外观缺陷偏振成像检测方法
文献摘要：
针对偏光片细微外观缺陷难以成像、难以检测的问题,该文提出一种基于偏振成像的外观缺陷检测新方法.通过缺陷偏振态指标测量结果,定性描述了对比度增强机理.利用缺陷与正常区域之间透射光偏振态的显著差异,大幅提高缺陷的成像对比度,从而简化后续图像处理算法,提高检测速度和准确率.实验结果表明,偏光片外观缺陷平均检出率达到97.3％,平均单个样品检测时间约为0.22 s,基本满足产业化应用要求.
文献关键词：
视觉检测;缺陷检测;偏振成像;偏光片;主成分分析
中图分类号：
作者姓名：
黄广俊;列智豪;王兴政;钟小品;邓元龙
作者机构：
深圳大学机电与控制工程学院 深圳 518060
文献出处：
引用格式：
[1]黄广俊;列智豪;王兴政;钟小品;邓元龙-.偏光片细微外观缺陷偏振成像检测方法)[J].电子与信息学报,2022(05):1636-1642
A类：
B类：
偏光片,细微,偏振成像,成像检测,外观缺陷检测,偏振态,指标测量,定性描述,对比度增强,增强机理,透射光,成像对比度,图像处理算法,高检,检测速度,样品检测,检测时间,产业化应用,应用要求,视觉检测
AB值：
0.333122
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