典型文献
微纳尺度下准一维超导体TaSe3的物理减薄
文献摘要：
在低维材料中,二维材料的剥离技术已经相对成熟,准一维材料由于具有特殊晶格结构,其减薄方法目前还缺乏系统的研究.针对准一维层状超导体TaSe3,借助X射线衍射仪(XRD)、Raman光谱仪(RS)、原子力显微镜(AFM)与光学显微镜(OM)表征手段,系统地研究了微纳尺度样品的机械剥离法与超声辅助液相剥离法.结果 表明:在机械剥离法中,提高温度或者改变样品放置方向使其与剥离方向垂直时,总剥离样品数和理想微纳尺度下的样品个数均增加,但理想样品占总样品的比例降低;在超声辅助液相剥离法中,利用超声波破碎仪,在振幅为305μm的条件下,超声20 min时,得到的理想样品最多,且远远多于机械剥离法得到的样品.因此,超声辅助液相剥离法与机械剥离法相比,更适用于微纳尺度准一维材料减薄.
文献关键词：
准一维材料;微纳尺度;三硒化钽(TaSe3);机械剥离;超声辅助液相剥离
中图分类号：
作者姓名：
王子佳;吴志勇;李承翰;詹鹏飞;杨泽燕;吴海城;宝日玛;邢颖
作者机构：
中国石油大学(北京)重质油国家重点实验室,北京102249;中国石油大学(北京)新能源与材料学院,北京102249;中国石油大学(北京)理学院,北京102249
文献出处：
引用格式：
[1]王子佳;吴志勇;李承翰;詹鹏飞;杨泽燕;吴海城;宝日玛;邢颖-.微纳尺度下准一维超导体TaSe3的物理减薄)[J].微纳电子技术,2022(01):74-83
A类：
TaSe3,准一维材料,超声辅助液相剥离
B类：
微纳尺度,超导体,减薄,低维材料,二维材料,剥离技术,晶格结构,对准,层状,Raman,光谱仪,RS,原子力显微镜,AFM,光学显微镜,OM,表征手段,机械剥离,液相剥离法,变样,品数,波破碎,硒化
AB值：
0.200222
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