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X射线荧光光谱分析硅石稳定性差的原因分析及改进
文献摘要：
利用X射线荧光分析仪分析同一硅石标样时,数据出现波动,极差最大达到5个品位,原因为融样的样片存在缺陷(气泡或不熔物).改进方法∶以最佳试样助溶剂质量比为1 ∶20、最佳融样温度为1 150℃和融样时间为15 min为条件制备标样样片,重新建立荧光分析曲线,再用化学湿法分析进行数据比对,结果理想.
文献关键词：
硅石;稳定性;改进;分析曲线
中图分类号：
作者姓名：
张勇;卢祥宇;段东辉;王青竹;王春燕
作者机构：
芜湖新兴铸管有限责任公司,安徽 芜湖 241000
文献出处：
引用格式：
[1]张勇;卢祥宇;段东辉;王青竹;王春燕-.X射线荧光光谱分析硅石稳定性差的原因分析及改进)[J].山西冶金,2022(08):3-5
A类：
不熔物
B类：
射线荧光光谱分析,硅石,分析及改进,荧光分析,石标,极差,品位,样片,存在缺陷,气泡,改进方法,助溶剂,样样,分析曲线,湿法,数据比对
AB值：
0.427761
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