典型文献
基于故障机理的电子板卡寿命试验方案研究
文献摘要：
针对电子板卡寿命试验未充分考虑现场运行工况及故障机理,导致评估精度不高的问题,研究了电子板卡寿命试验方案的设计流程.首先,研究了美国国家标准ANSI/VITA 51.2-2016,并着重论述了 6种板级故障机理、6种封装级故障机理以及9种元器件级故障机理;其次,将典型载荷与故障机理进行了对比分析,建立了故障机理—外界载荷关联矩阵;最后,根据由主故障机理反推关键外界载荷的思路,制定了电子板卡寿命试验方案设计流程.
文献关键词：
ANSI/VITA 51.2-2016;电子板卡;故障机理;寿命试验
中图分类号：
作者姓名：
汪旭;吴洁;肖江林;匡芬
作者机构：
中车株洲电力机车研究所有限公司,湖南株洲412000
文献出处：
引用格式：
[1]汪旭;吴洁;肖江林;匡芬-.基于故障机理的电子板卡寿命试验方案研究)[J].机车车辆工艺,2022(06):49-51
A类：
电子板卡
B类：
故障机理,寿命试验,方案研究,运行工况,设计流程,ANSI,VITA,板级,封装,元器件,器件级,关联矩阵,反推,试验方案设计
AB值：
0.211824
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