典型文献
多波长消光法粒径测量下限影响因素分析
文献摘要：
介绍了根据Lambert-Beer定理并采用多波长消光法测量颗粒粒径分布的方法.提出了基于数值模拟和数理统计对多波长消光法粒径测量下限进行估计的方法.通过数值模拟分析讨论了入射光波长、颗粒相对折射率和透光率对粒径测量下限的影响.研究为多波长消光法粒径测量在实际应用中的可行性提供了指导.
文献关键词：
多波长消光法;Mie理论;粒径分布测量;测量下限
中图分类号：
作者姓名：
吴文韬;周骛;陈本廷;蔡小舒
作者机构：
上海理工大学颗粒与两相流测量研究所/上海市动力工程多相流动与传热重点实验室,上海200093
文献出处：
引用格式：
[1]吴文韬;周骛;陈本廷;蔡小舒-.多波长消光法粒径测量下限影响因素分析)[J].能源研究与信息,2022(04):230-235
A类：
多波长消光法
B类：
粒径测量,测量下限,Lambert,Beer,颗粒粒径分布,数理统计,数值模拟分析,分析讨论,入射光,光波长,颗粒相,对折,折射率,透光率,Mie,粒径分布测量
AB值：
0.242125
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