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量子芯片测评技术综述
文献摘要：
在研制量子芯片时对其性能进行测评,以校准量子算法实际执行结果与理论结果的拟合程度是量子计算优于经典计算的重要一步.然而,目前国内外对量子芯片性能测评方面并没有统一的基准测试,对于量子芯片局部指标的测评标准容易导致人们对芯片整体性能的误解.鉴于此,本文首先简述现有的量子芯片性能指标,其次通过对测评方法进行分类,概述现今量子芯片测评方法,最后总结量子芯片测评技术的现存问题并对未来的测评技术进行展望.本综述可为从事相关工作的人员进行查阅提供便利.
文献关键词：
量子芯片;量子基准测试;量子计算优势;量子保真度;量子体积
中图分类号：
作者姓名：
何明;刘晓楠;王俊超
作者机构：
信息工程大学网络空间安全学院,郑州450001
文献出处：
引用格式：
[1]何明;刘晓楠;王俊超-.量子芯片测评技术综述)[J].计算机系统应用,2022(12):1-9
A类：
量子基准测试,量子计算优势,量子保真度,量子体积
B类：
量子芯片,测评技术,技术综述,片时,量子算法,拟合程度,性能测评,测评标准,整体性能,误解,测评方法,现存问题,事相
AB值：
0.198332
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