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基于核级双卡套管路接头的密封性能试验方法
文献摘要：
该文针对核级卡套接头,评估其密封性能,从卡套接头工作环境出发,总结给出了相应的试验方案和程序.
文献关键词：
卡套;密封性能;方法;核电设备
中图分类号：
作者姓名：
李宝熠;励行根;励洁;薛源;刘金贵;李征
作者机构：
中广核工程有限公司,广东 深圳518000;宁波天生密封件有限公司,浙江 宁波315300
文献出处：
引用格式：
[1]李宝熠;励行根;励洁;薛源;刘金贵;李征-.基于核级双卡套管路接头的密封性能试验方法)[J].液压气动与密封,2022(11):84-89
A类：
B类：
核级,套管,管路接头,密封性能试验,卡套接头,试验方案,核电设备
AB值：
0.264953
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