典型文献
用于LED芯片检测的景深合成系统
文献摘要：
目的:显微镜过小的景深会导致观测LED芯片时存在模糊的区域,为得到清晰的LED芯片成像图,特开展了相应的图像融合算法研究.方法:通过微动平台不断改变L ED芯片与显微镜物镜的距离并拍摄多张聚焦在不同位置的图像,再将得到的图像通过拉普拉斯金字塔算法进行融合.结果:相较于其它图像融合算法,通过拉普拉斯金字塔算法得到的L ED芯片融合图最为清晰,标准差可达89.37,平均梯度可达7.76.结论:通过该景深合成系统,实现了图像采样的自动化,解决了显微镜过小的景深而成像模糊的问题,并且融合后的数字图像易于观测和保存.
文献关键词：
LED检测;景深合成;拉普拉斯金字塔
中图分类号：
作者姓名：
王笔神;刘红林
作者机构：
中国计量大学光学与电子科技学院,浙江杭州310018
文献出处：
引用格式：
[1]王笔神;刘红林-.用于LED芯片检测的景深合成系统)[J].中国计量大学学报,2022(04):533-538
A类：
景深合成
B类：
LED,芯片检测,合成系,片时,图像融合,融合算法,算法研究,微动平台,物镜,多张,不同位置,拉普拉斯金字塔算法,差可,平均梯度,数字图像
AB值：
0.198226
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