典型文献
考虑寄生参数影响的芯片RC-HBM静电测试模型
文献摘要：
采用常规的人体模型(Human Body Model,HBM)进行静电释放(Electro-Static Discharge,ESD)测试时往往容易受到寄生参数的影响,使得电源芯片抗静电能力测量值与实际抗静电能力存在偏差,导致劣质产品通过HBM ESD测试,影响电源芯片产品良品率的提升.为此,提出了一种RC-HBM模型,通过引入RC并联支路,校正因寄生参数引起的静电放电电流的偏差,满足电源芯片静电可靠性测试的要求.首先阐述了静电对电源芯片的损坏机理.其次,分析了寄生参数对ESD电流的影响,阐述了常规HBM ESD测试的局限性.并提出了一种新型的RC-HBM模型,给出了RC并联支路参数的设计依据.最后,通过批量实验验证了所提RC-HBM模型的准确性和合理性.
文献关键词：
电源芯片;HBM模型;ESD;寄生参数;静电放电电流
中图分类号：
作者姓名：
熊素琴;李求洋;肖志强
作者机构：
中国电力科学研究院有限公司,北京 100192;湖南大学电气与信息工程学院,湖南 长沙 410082
文献出处：
引用格式：
[1]熊素琴;李求洋;肖志强-.考虑寄生参数影响的芯片RC-HBM静电测试模型)[J].电力系统保护与控制,2022(04):172-179
A类：
静电放电电流
B类：
寄生参数,参数影响,RC,HBM,静电测试,测试模型,人体模型,Human,Body,Model,静电释放,Electro,Static,Discharge,ESD,电源芯片,抗静电,静电能,测量值,劣质,良品率,支路,可靠性测试,损坏机理,设计依据,批量实验
AB值：
0.312559
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
