典型文献
采用变分自编码器的无监督压敏电阻表面缺陷检测
文献摘要：
为解决在压敏电阻表面缺陷检测中缺陷样本采集困难以及检测精度差的问题,提出一种采用深度卷积变分自编码器(DCVAE)的无监督表面缺陷检测方法,用于压敏电阻表面缺陷的检测.预处理阶段利用去背景、规范化以及图像差分技术对原始图像进行处理,精准提取出了差分图像,消除了无关数据特征对算法的影响.为了提升缺陷检测的精度,算法首先将空间注意力机制融入变分自编码器,有效地提取出了良品图像的特征;其次将重构前后图像相减得到残差图,突出缺陷区域,衰减非缺陷区域.通过与已有流行的两种无监督缺陷检测方法进行对比,实验结果表明,所提方法F1值至少提升了7.4％,准确率达98.58％.
文献关键词：
缺陷检测;压敏电阻;无监督学习;空间注意力;变分自编码器
中图分类号：
作者姓名：
唐善成;陈明;王瀚博;张雪;张莹
作者机构：
西安科技大学 通信与信息工程学院,陕西 西安 710054
文献出处：
引用格式：
[1]唐善成;陈明;王瀚博;张雪;张莹-.采用变分自编码器的无监督压敏电阻表面缺陷检测)[J].计算机集成制造系统,2022(05):1337-1351
A类：
DCVAE
B类：
变分自编码器,压敏电阻,电阻表,表面缺陷检测,样本采集,检测精度,深度卷积,缺陷检测方法,用去,图像差分,差分技术,原始图像,精准提取,数据特征,空间注意力机制,后图,相减,减得,残差图,出缺,少提,无监督学习
AB值：
0.242865
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