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典型文献
国产元器件高可靠装联常见问题及其启示
文献摘要:
针对航天高可靠、长寿命电子产品用国产元器件,通过近年元器件国产化的应用实践,从电子装联的角度,对元器件国产化过程中的常见共性问题进行了分析和总结,并浅谈了元器件国产化过程中这些问题对我们的启示及后续应注意的问题及相关建议.
文献关键词:
国产;元器件;高可靠;装联
作者姓名:
高伟娜;张明华;隋淞印;王宁宁;李莹
作者机构:
北京卫星制造厂有限公司,北京 100094
文献出处:
引用格式:
[1]高伟娜;张明华;隋淞印;王宁宁;李莹-.国产元器件高可靠装联常见问题及其启示)[J].宇航材料工艺,2022(04):98-102
A类:
B类:
国产元器件,高可靠,长寿命,电子产品,国产化,电子装联,共性问题,应注意的问题
AB值:
0.211868
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