典型文献
大尺寸液晶面板获取精准缺陷坐标的研究与应用
文献摘要：
为了解决传统小尺寸液晶面板缺陷寻址方法应用在高分辨率、大尺寸液晶面板上存在的效率低、精度差等问题,建立了全自动缺陷精确寻址系统,并对该系统硬件与软件的架构及实施方式、缺陷的定址逻辑进行研究.首先,在点灯检测设备的基础上增加可移动光学相机机构和相应的软件架构,构建成寻址中控系统;然后,通过相机拍摄液晶面板自身显示的空心十字光标与缺陷重合前后的图片,采用对比的方法精确定位缺陷;最后,通过液晶面板驱动装置输出缺陷坐标.对5种缺陷进行测试,结果表明,该系统稳定易用,具有全自动、识别速度快和100％精确寻址等优点.该系统应用于H公司缺陷坐标寻址工序后,缺陷坐标准确性提升30％以上,缺陷维修收益显著提升,在大尺寸液晶面板缺陷维修坐标寻址领域具有重大应用价值.
文献关键词：
大尺寸;液晶面板;缺陷坐标;精确定位
中图分类号：
作者姓名：
张俊;朱忠发;周进;刘成;索金亮;王彬;黄助兵
作者机构：
合肥京东方显示技术有限公司,安徽合肥230012
文献出处：
引用格式：
[1]张俊;朱忠发;周进;刘成;索金亮;王彬;黄助兵-.大尺寸液晶面板获取精准缺陷坐标的研究与应用)[J].液晶与显示,2022(12):1561-1571
A类：
缺陷坐标
B类：
大尺寸,液晶面板,小尺寸,寻址,系统硬件,实施方式,定址,点灯,检测设备,可移动,光学相机,软件架构,中控系统,光标,精确定位,驱动装置,出缺,陷进,系统稳定,易用,系统应用,准确性提升,大应用
AB值：
0.255537
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