典型文献
OLED显示残像研究进展
文献摘要：
有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示技术通过有机材料的自主发光,展现出广色域、低能耗、柔性化等优点,是最具发展潜力的显示技术之一.目前OLED显示仍存在寿命短、亮度低和可靠性差等问题,这些问题最终导致残像现象的发生,本文旨在分析和总结OLED显示残像问题的研究进展和相关解决方案.首先,阐释了OLED显示残像问题与OLED材料寿命和薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)稳定性的关联,关注柔性与刚性OLED器件的结构差异,进一步总结、归纳了OLED残像的产生机制.其次,针对不同的残像诱发原因,讨论了缓解和补偿OLED显示残像的方法,包括提升OLED有机材料寿命和TFT阈值电压稳定性、外部补偿电路等方案.最后,对OLED显示残像问题的进一步解决办法进行了展望.
文献关键词：
有机发光二极管;残像;薄膜晶体管;柔性显示
中图分类号：
作者姓名：
翁乐;史大为;郭建;喻志农
作者机构：
北京理工大学光电学院,北京市混合现实与先进显示技术工程研究中心,北京100081;重庆京东方显示技术有限公司,重庆400714
文献出处：
引用格式：
[1]翁乐;史大为;郭建;喻志农-.OLED显示残像研究进展)[J].液晶与显示,2022(09):1140-1150
A类：
残像
B类：
OLED,有机发光二极管,Organic,Light,Emitting,Diode,显示技术,有机材料,广色域,低能耗,柔性化,寿命短,亮度,致残,材料寿命,薄膜晶体管,Thin,Film,Transistor,TFT,结构差异,产生机制,诱发原因,阈值电压,电压稳定性,解决办法,柔性显示
AB值：
0.337999
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