典型文献
Si10团簇成键条件和解离行为的密度泛函紧束缚研究
文献摘要：
本研究利用遗传算法和基于密度泛函理论的紧束缚方法相结合的计算方法,研究了Si10团簇的原子堆积结构的成键条件和电子性质.计算结果发现,Si10团簇的最低能稳定结构表现为以一个三棱柱体为基础结构单元,在其3个侧面和一个底面堆积了四个金字塔堆积结构,形成了由四个金字塔包围三棱柱体的类球形结构.原子间成键强烈依赖于团簇中各原子紧邻原子的几何排布情况,原子间交叠电子布居数具有显著的方向性,随着键长增加迅速减小.由团簇中各原子成键条件的分析,可以判断Si7团簇是Si10团簇最容易形成的解离产物,然后出现的是Si6团簇.
文献关键词：
团簇;电子性质;密度泛函紧束缚;Mulliken交叠电子布局数
中图分类号：
作者姓名：
韩艳;吴丽君;王芷晴;陈上峰
作者机构：
沈阳理工大学 理学院,沈阳110159
文献出处：
引用格式：
[1]韩艳;吴丽君;王芷晴;陈上峰-.Si10团簇成键条件和解离行为的密度泛函紧束缚研究)[J].原子与分子物理学报,2022(06):77-84
A类：
Si10,密度泛函紧束缚,Si7
B类：
团簇,成键,解离,研究利用,基于密度,密度泛函理论,堆积结构,电子性质,稳定结构,结构表现,三棱柱,棱柱体,基础结构,结构单元,底面,金字塔,包围,球形结构,原子间,紧邻,排布,交叠,布居数,数具,方向性,键长,Si6,Mulliken,局数
AB值：
0.338969
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
