典型文献
微小型、低功耗三轴高冲击存储测试装置
文献摘要：
针对冲击试验与测试的冲击强度等参数越来越高,导致现有存储测试装置已不能完全满足特种测试、不适应新概念测试发展要求的问题,提出微小型、低功耗,掉电后仍然能完成采集和数据存储功能的三轴高冲击存储测试装置.存储测试装置以STM32G031为主控芯片,利用片内SAR-ADC实现模数转换,采用AD8226仪表运放实现增益放大功能.数据存储在容量为512 KB的FRAM中,采样速率100 kSps以上,采样精度12 bit.该装置的PCB板为直径22 mm的单片圆板,满足微小型要求,通过合理灌封和过载保护提高抗冲击性能.样机验证试验表明,该装置各模块功能正常,基本满足性能指标,功耗小于33 mW,掉电后可以仅凭电容储能工作700 m s,具有一定实用性.
文献关键词：
存储测试装置;三轴高冲击;微小型;低功耗
中图分类号：
作者姓名：
李锐;张振海;牛兰杰;李禄刚;宋钱骞;赵旭;张大治
作者机构：
北京理工大学,北京100081;西安机电信息技术研究所,陕西西安710065;湖北三江航天红林探控有限公司,湖北孝感432000;北京旋极信息技术股份有限公司,北京100094;航空工业北京长城计量测试技术研究所,北京100095
文献出处：
引用格式：
[1]李锐;张振海;牛兰杰;李禄刚;宋钱骞;赵旭;张大治-.微小型、低功耗三轴高冲击存储测试装置)[J].探测与控制学报,2022(01):63-71
A类：
三轴高冲击,存储测试装置,STM32G031,AD8226,kSps
B类：
微小型,低功耗,对冲,冲击试验,冲击强度,特种,新概念,掉电,数据存储,主控,SAR,ADC,模数转换,仪表,运放,KB,FRAM,bit,PCB,单片,灌封,过载保护,高抗,抗冲击性能,样机验证试验,模块功能,mW,仅凭,电容储能
AB值：
0.276378
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