典型文献
双矩形劈裂硅环超表面中连续域束缚态研究
文献摘要：
连续域束缚态因其高品质因子和大电磁场增益在微纳光学器件中具有重要的应用潜力.文章提出了由双矩形劈裂硅环周期排列构成的超表面,通过调节劈裂间隙宽度实现对称破缺,研究发现该超表面支持对称保护的连续域束缚态,其品质因子与不对称度满足平方反比关系.利用连续域束缚态的高品质因子和在劈裂间隙中大的电场局域增强特优点,获得了高性能的折射率传感器,其折射率灵敏度为236.2 nm/RIU,质量因数FOM达到956.该超表面独特的光学性质可以应用于传感器、光学开关、激光器、非线性光学等新型纳米光学器件.
文献关键词：
连续域束缚态;超表面;硅;折射率传感器
中图分类号：
作者姓名：
曹嘉伟;陶浩浩;孙光厚
作者机构：
九江学院理学院;江西省微结构功能材料重点实验室 江西九江 332005
文献出处：
引用格式：
[1]曹嘉伟;陶浩浩;孙光厚-.双矩形劈裂硅环超表面中连续域束缚态研究)[J].九江学院学报（自然科学版）,2022(04):46-49,64
A类：
B类：
劈裂,超表面,连续域束缚态,高品质因子,电磁场,微纳光学器件,间隙宽度,对称破缺,不对称度,反比,电场局域,折射率传感器,折射率灵敏度,RIU,FOM,光学性质,激光器,非线性光学
AB值：
0.260526
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
