典型文献
热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响
文献摘要：
在280,300,320℃下对包绕电磁线的聚酰亚胺薄膜分别进行热老化试验,研究了热老化对聚酰亚胺薄膜力学性能、微观结构、热学及电学性能的影响.结果表明:热老化使聚酰亚胺薄膜结构遭到破坏,其拉伸强度显著下降,且热老化温度越高,拉伸强度下降幅度越大;计算得到热老化前后聚酰亚胺薄膜的反应活化能分别为151.88 kJ/mol和139.92 kJ/mol;热老化后,聚酰亚胺薄膜包绕电磁线的绝缘击穿电压下降.
文献关键词：
聚酰亚胺薄膜;热老化;活化能;微观组织;绝缘击穿电压
中图分类号：
作者姓名：
孙勇;陈晓鹏
作者机构：
中国南方电网超高压输电公司检修实验中心,广东 广州,510663
文献出处：
引用格式：
[1]孙勇;陈晓鹏-.热老化对空心电抗器匝间绝缘材料性能影响)[J].现代塑料加工应用,2022(02):24-26,30
A类：
绝缘击穿电压
B类：
空心电抗器,匝间绝缘,绝缘材料,材料性能,电磁线,聚酰亚胺薄膜,热老化试验,膜力,热学,电学性能,薄膜结构,拉伸强度,反应活化能,kJ,微观组织
AB值：
0.191463
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