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向列相液晶自由能密度的拓扑结构
文献摘要：
通过对经典向列相液晶自由能密度表达式的深入分析,添加了一项代表液晶缺陷自由能的表面项.利用?映射方法和拓扑流理论研究了集中在缺陷处的自由能密度的表达式.结果显示,缺陷自身的自由能密度是以1/2kπ为单位拓扑量子化的,且拓扑量子数由Hopf指数和Brouwer度决定.进一步给出了一些不同向错强度下缺陷附近的液晶分子的分布构形.
文献关键词：
液晶;指向矢;自由能;缺陷;拓扑流
中图分类号：
作者姓名：
张灿宇;杨国宏
作者机构：
上海大学理学院,上海200444;上海市星系与宇宙学半解析研究重点实验室,上海200234
文献出处：
引用格式：
[1]张灿宇;杨国宏-.向列相液晶自由能密度的拓扑结构)[J].上海大学学报（自然科学版）,2022(06):1094-1105
A类：
拓扑流,Brouwer
B类：
向列相液晶,自由能,拓扑结构,映射方法,2k,量子化,量子数,Hopf,指向矢
AB值：
0.274622
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