典型文献
反射式液晶黑点缺陷分析与改善
文献摘要：
采用超景深显微镜、扫描电镜、能谱仪等手段对存在黑点缺陷的反射式液晶进行分析.结果表明:黑点为偏光片反射膜Al层被腐蚀的坑洞,并存在I元素残留,且I元素含量越高,腐蚀程度越严重.通过双85老化试验能快速复现故障,分析为PVA膜吸附的I发生高温升华,并渗透穿过TAV膜,与反射膜Al层接触,在H2O催化作用下发生氧化还原反应生成AlI3,导致反射膜Al层腐蚀;增大碘溶液浓度及染色时间,并提高PVA膜拉伸倍率,以增强I元素在PVA膜上的吸附能力,可有效提高液晶的质量可靠性.
文献关键词：
反射式液晶;偏光片;黑点缺陷;腐蚀;质量可靠性
中图分类号：
作者姓名：
钱正君;陆正华
作者机构：
珠海格力电器股份有限公司,广东 珠海 519070
文献出处：
引用格式：
[1]钱正君;陆正华-.反射式液晶黑点缺陷分析与改善)[J].失效分析与预防,2022(04):268-272
A类：
AlI3
B类：
反射式液晶,黑点缺陷,缺陷分析,超景深显微镜,能谱仪,偏光片,反射膜,坑洞,元素含量,腐蚀程度,老化试验,速复,复现,PVA,膜吸附,穿过,TAV,H2O,催化作用,氧化还原反应,溶液浓度,染色时间,拉伸倍率,吸附能力,质量可靠性
AB值：
0.332135
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