典型文献
多尺度残差网络模型的开放式电阻抗成像算法
文献摘要：
针对开放式电阻抗成像(OEIT)的图像重建算法存在的成像精度低、对噪声敏感、重建图像伪影面积较大等问题,提出基于多尺度残差网络模型的OEIT算法.该算法利用不同尺寸卷积核的残差块提取边界电压的多尺度特征;在完成特征拼接后,利用卷积实现深层信息融合,得到预测的电导率分布结果.使用有限元法搭建OEIT正问题模型,构造"边界电压?电导率分布"数据集,将所提算法与其他算法在该数据集和实际模型实验中进行比较.结果表明,所提算法使OEIT的重建精度、抗噪能力和定位目标准确性显著提高,并使检测目标的伪影面积缩小.
文献关键词：
开放式电阻抗成像(OEIT);图像重建;深度学习;残差网络;多尺度特征
中图分类号：
作者姓名：
刘近贞;陈飞;熊慧
作者机构：
天津工业大学 控制科学与工程学院,天津 300387;天津工业大学 天津市电气装备智能控制重点实验室,天津 300387
文献出处：
引用格式：
[1]刘近贞;陈飞;熊慧-.多尺度残差网络模型的开放式电阻抗成像算法)[J].浙江大学学报（工学版）,2022(09):1789-1795
A类：
OEIT
B类：
多尺度残差,残差网络模型,电阻抗成像,成像算法,图像重建算法,成像精度,重建图像,图像伪影,法利,不同尺寸,卷积核,残差块,多尺度特征,特征拼接,信息融合,电导率,有限元法,正问题,问题模型,模型实验,重建精度
AB值：
0.289653
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