典型文献
X射线衍射法测量电容传声器的膜片张力
文献摘要：
为满足电容传声器膜片张力的直接测量需求,利用X射线衍射法对处于不同张力大小的电容传声器膜片进行测量,并与静电激励谐振法的张力计算值进行比较.结果表明,两者呈现相同的趋势并具有较好的一致性.通过传声器频率响应计算得到的谐振频率包含了电容传声器膜片后空腔等结构部件的影响,其测量值略高于膜片自由振动的谐振频率,因此X射线衍射法的测量结果略低于根据谐振频率计算的张力值.最后通过系列试验进一步验证了膜片张力对电容传声器电声特性的影响.
文献关键词：
计量学;电容传声器;膜片;应力;X射线衍射;频率响应
中图分类号：
作者姓名：
李旭;何龙标;祝海江;张小丽;冯秀娟;牛锋
作者机构：
中国计量科学研究院,北京100029;北京化工大学,北京100029
文献出处：
引用格式：
[1]李旭;何龙标;祝海江;张小丽;冯秀娟;牛锋-.X射线衍射法测量电容传声器的膜片张力)[J].计量学报,2022(12):1645-1650
A类：
电容传声器
B类：
衍射法,测量电容,膜片,直接测量,电激励,振法,张力计算,计算值,频率响应,应计,谐振频率,空腔,结构部件,测量值,略高于,自由振动,略低于,频率计算,电声
AB值：
0.233453
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