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以壳聚糖为基底的分子印迹电化学传感器研究及倍硫磷测定
文献摘要：
研制了一种以壳聚糖修饰层为基底的倍硫磷分子印迹电化学传感器.首次利用修饰电极对探针离子的吸附富集作用提高分子印迹传感器检测的灵敏度.采用交流阻抗法和循环伏安法对传感器响应过程进行电化学表征;对洗脱、重吸附、探针富集时间等实验条件进行优化;考察了壳聚糖对"门控制效应"测量模式的增敏效应.在优化条件下,该传感器对倍硫磷的检测范围为1～10000 pg/mL,检出限为0.35 pg/mL.该传感器已成功用于蔬菜和水果中倍硫磷的测定,其加标回收率为99.0％～109％,相对标准偏差为1.9％～2.9％.
文献关键词：
壳聚糖;分子印迹;倍硫磷;信号放大;门控效应
中图分类号：
作者姓名：
凌俊;杨光炜;李建平
作者机构：
桂林理工大学 环境科学与工程学院,广西 桂林 541004;桂林理工大学 化学与生物工程学院,广西 桂林 541004
文献出处：
引用格式：
[1]凌俊;杨光炜;李建平-.以壳聚糖为基底的分子印迹电化学传感器研究及倍硫磷测定)[J].分析测试学报,2022(08):1247-1252
A类：
B类：
壳聚糖,分子印迹电化学传感器,倍硫磷,修饰电极,吸附富集,富集作用,高分子,分子印迹传感器,传感器检测,交流阻抗,阻抗法,循环伏安法,响应过程,电化学表征,洗脱,实验条件,测量模式,增敏,优化条件,检测范围,pg,检出限,功用,蔬菜和水果,加标回收率,相对标准偏差,信号放大,门控效应
AB值：
0.330189
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