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基于STM32的三激光位移传感器的在机测头设计
文献摘要：
内曲面特征的精密、高效检测是限制高端装备制造的重要因素,在机测量及其控制补偿技术是主要解决方法之一.文章以高精度点激光位移传感器为基础,以柱形内曲面为对象,设计和制作三激光位移传感器旋转在机测头;以STM32微型处理器为基础设计控制电路,将其与三个激光位移传感器连接,实现三个传感器同时采集数据,并将采集到的数据进行同步传输.实验结果表明,该在机测头能够满足对内孔直径及圆柱度等几何参数的数据采集要求.
文献关键词：
在机测量;激光位移传感器;STM32;测头
中图分类号：
作者姓名：
刘新波;杨永青;黎浪
作者机构：
邵阳学院 多电源地区电网运行与控制湖南省重点实验室,湖南 邵阳 422000
文献出处：
引用格式：
[1]刘新波;杨永青;黎浪-.基于STM32的三激光位移传感器的在机测头设计)[J].现代信息科技,2022(14):150-153,157
A类：
测头设计
B类：
STM32,激光位移传感器,高效检测,高端装备制造,在机测量,补偿技术,点激光,柱形,转在,处理器,基础设计,控制电路,采集数据,行同,同步传输,内孔,圆柱度,几何参数
AB值：
0.314266
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