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典型文献
时间延迟积分荧光显微成像平场校正技术
文献摘要:
时间延迟积分(Time Delay Integration,TDI)图像传感器具有高速、高灵敏度等特点,广泛应用于高通量、大视场的荧光显微成像系统中.显微物镜视场内响应均匀是精确获取荧光能量分布的基础,为提高系统成像质量和测量准确度,研究了适用于TDI荧光显微成像系统的平场校正或响应非均匀性校正方法.根据TDI荧光成像系统的工作原理推导激光诱导荧光成像模型,分析图像均匀性退化机理.提出一种基于微阵列生物芯片的两步式校正方法,将系统响应非均匀性分为高频和低频部分分别校正,高频部分采用传统的两点校正方法,低频部分采用微阵列生物芯片校正.基于高通量TDI荧光显微成像系统开展实验,执行并验证本文的校正方法.实验结果表明:本文方法将TDI荧光成像系统的响应非均匀性由25.21%降低至2.87%,显著提高了系统性能.本文提出的校正方法能够满足TDI荧光显微成像系统的平场校正需求,具有一定的应用价值.
文献关键词:
荧光显微成像;时间延迟积分;非均匀性校正;微阵列生物芯片
作者姓名:
常松涛;夏豪杰
作者机构:
合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,安徽合肥230009;测量理论与精密仪器安徽省重点实验室,安徽合肥230009
文献出处:
引用格式:
[1]常松涛;夏豪杰-.时间延迟积分荧光显微成像平场校正技术)[J].光学精密工程,2022(05):527-535
A类:
微阵列生物芯片
B类:
时间延迟积分,荧光显微成像,平场校正,校正技术,Time,Delay,Integration,TDI,图像传感器,高灵敏度,大视场,成像系统,物镜,场内,光能,能量分布,成像质量,测量准确度,响应非均匀性,非均匀性校正,校正方法,荧光成像,激光诱导荧光,成像模型,析图,退化机理,两步式,系统响应,别校,两点校正,系统性能
AB值:
0.228219
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