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重复经颅直流电刺激对健康大学生前额叶功能连接的影响
文献摘要：
目的 探究重复经颅直流电刺激后健康大学生前额叶脑区功能连接的变化.方法 选取某大学在读本科生39名,利用随机数表法将被试分为刺激组(n=21)和对照组(n=18),使用强度为1.5 mA的经颅直流电刺激对两组被试实施为期4周、共12次的干预(对照组为假刺激),每次干预持续20 min,通过功能性近红外光谱技术在试验前(基线)、试验中(第14天)、试验后(第28天)3个时间点对被试的前额叶静息态功能连接进行评估.结果 近红外光谱数据显示,P值校正前刺激组发生功能连接变化的通道占比(29.71％)远高于对照组(7.03％);采用Bonferroni法对P值进行校正后显示,试验后刺激组两侧额叶及额叶间的功能连接较实验前减弱(P'<0.05),而对照组无明显变化.结论 重复经颅直流电刺激能够降低功能连接,提升前额叶皮质的连通效率.
文献关键词：
经颅直流电刺激;功能近红外光谱成像技术;前额叶皮质;功能连接
中图分类号：
作者姓名：
卢宏亮;王昕璐;王莹霜;隋佳汝;朱霞
作者机构：
空军军医大学军事医学心理学系军事心理学教研室,西安 710032
文献出处：
引用格式：
[1]卢宏亮;王昕璐;王莹霜;隋佳汝;朱霞-.重复经颅直流电刺激对健康大学生前额叶功能连接的影响)[J].海军军医大学学报,2022(03):335-340
A类：
B类：
重复经颅直流电刺激,健康大学生,生前,脑区,某大学,在读,读本,本科生,使用强度,mA,施为,功能性近红外光谱技术,验前,静息态功能连接,接进,光谱数据,正前,Bonferroni,前额叶皮质,功能近红外光谱成像技术
AB值：
0.152592
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