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典型文献
磁性测厚仪的测量系统分析
文献摘要:
根据测量系统分析方法,在镀层厚度为7.6~15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估,并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响.结果表明,基体粗糙度(Ra)小于1.6μm,采用两点校准(含零点),并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时,测量系统能力较高,但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30%的要求.
文献关键词:
镀层厚度;磁性法;测量系统能力;基体粗糙度;校准;读数
作者姓名:
杨志业;李阳;王进军;耿莽河;郭燕
作者机构:
沈阳飞机工业(集团)有限公司,辽宁 沈阳 110034
文献出处:
引用格式:
[1]杨志业;李阳;王进军;耿莽河;郭燕-.磁性测厚仪的测量系统分析)[J].电镀与涂饰,2022(04):295-297
A类:
测量系统能力,B499
B类:
测厚仪,测量系统分析,镀层厚度,基体粗糙度,校准方法,统计方法,Ra,两点,点校,零点,ASTM,标准规定,精确性,公差,磁性法,读数
AB值:
0.277659
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