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磁性测厚仪的测量系统分析
文献摘要：
根据测量系统分析方法,在镀层厚度为7.6～15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估,并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响.结果表明,基体粗糙度(Ra)小于1.6μm,采用两点校准(含零点),并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时,测量系统能力较高,但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30％的要求.
文献关键词：
镀层厚度;磁性法;测量系统能力;基体粗糙度;校准;读数
中图分类号：
作者姓名：
杨志业;李阳;王进军;耿莽河;郭燕
作者机构：
沈阳飞机工业(集团)有限公司,辽宁 沈阳 110034
文献出处：
引用格式：
[1]杨志业;李阳;王进军;耿莽河;郭燕-.磁性测厚仪的测量系统分析)[J].电镀与涂饰,2022(04):295-297
A类：
测量系统能力,B499
B类：
测厚仪,测量系统分析,镀层厚度,基体粗糙度,校准方法,统计方法,Ra,两点,点校,零点,ASTM,标准规定,精确性,公差,磁性法,读数
AB值：
0.277659
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