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DHR TDC芯片的性能测试
文献摘要：
TDC(time-to-digital converter)作为基于信号甄别和时间数字转换的时间测量技术路线的主要组成部分之一,至今在诸多领域中都具有广泛的应用.本实验室对高精度时间测量TDC ASIC(Application Specific In-tegrated Circuit)进行了深入研究,在180nm CMOS工艺下完成了基于DLL(Delay-Locked Loop)结构的原型芯片的设计,芯片命名为DHR TDC.为了评估原型芯片的相关性能以推进下一步的改版设计,设计了测试电子学模块,构建了相应的电子学测试系统并完成了性能测试.测试结果表明,该TDC具有较好的性能,在实现156 ps的bin size基础上时间精度好于60 ps RMS.同时该TDC在20μs的动态范围下具有较好的线性,其DNL(Differential NonLinearity)和INL(Integral NonLinearity)分别好于0.13和0.15 LSB(Least Significant Bit).
文献关键词：
TDC;ASIC;高精度时间测量;芯片测试
中图分类号：
作者姓名：
蓝松富;赵雷;秦家军;王裕廷;刘树彬;安琪
作者机构：
核探测与核电子学国家重点实验室,中国科学技术大学,合肥 230026;中国科学技术大学近代物理系,合肥 230026
文献出处：
引用格式：
[1]蓝松富;赵雷;秦家军;王裕廷;刘树彬;安琪-.DHR TDC芯片的性能测试)[J].原子核物理评论,2022(01):81-87
A类：
NonLinearity
B类：
DHR,TDC,digital,converter,信号甄别,测量技术,高精度时间测量,ASIC,Application,Specific,tegrated,Circuit,180nm,CMOS,下完,DLL,Delay,Locked,Loop,型芯,相关性能,改版,版设,电子学,测试系统,ps,bin,size,时间精度,RMS,动态范围,围下,DNL,Differential,INL,Integral,LSB,Least,Significant,Bit,芯片测试
AB值：
0.529547
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