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高计数率多气隙阻性板室温度效应测试
文献摘要：
为了提高多气隙阻性板室(MRPC)探测器的定时精度,CBM实验采用了前放电子学直接插接在探测器上的设计方案.但是电子学在高计数率的实验条件下,自身发热会带来探测器工作气体环境温度的上升.针对低电阻玻璃的自身特性,本文对应用于CBM实验的高计数率MRPC2型探测器进行了温度实验,其结果可对未来CBM-TOF的运行提供参考.
文献关键词：
温度效应;高计数率;MRPC;飞行时间谱仪;气体探测器
中图分类号：
作者姓名：
郭宝鸿;回春玲;王泊覃;陈晓龙;王义;王一;李元景
作者机构：
同方威视科技(北京)有限公司,北京101599;清华大学工程物理系,北京100084
文献出处：
引用格式：
[1]郭宝鸿;回春玲;王泊覃;陈晓龙;王义;王一;李元景-.高计数率多气隙阻性板室温度效应测试)[J].核电子学与探测技术,2022(05):818-822
A类：
MRPC,MRPC2,飞行时间谱仪
B类：
高计数率,气隙,温度效应,CBM,电子学,接插,插接,接在,实验条件,气体环境,低电阻,温度实验,TOF,气体探测器
AB值：
0.267478
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