典型文献
国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究
文献摘要：
随着汽车芯片短缺情况持续加剧,2021年全球汽车总计减产810.7万辆,因疫情"黑天鹅"因素及芯片产业自身的长周期性,汽车芯片短缺问题在短时间内难以消除.在"新四化"浪潮下,汽车产业的芯片需求会进一步扩大,汽车芯片短缺将进一步加剧.车规级芯片技术突破与产业化发展成为根本的解决办法,本文从现有汽车电子产品的环境可靠性试验标准与国外的相应标准两个方向进行对比研究,为国产化下的车规级芯片环境可靠性试验体系建设提供借鉴.
文献关键词：
车规级;芯片国产化;可靠性试验;试验标准
中图分类号：
作者姓名：
张送;胡慧婧;韦锦波;何逸波
作者机构：
上汽通用五菱汽车股份有限公司技术中心 广西柳州市 545007
文献出处：
引用格式：
[1]张送;胡慧婧;韦锦波;何逸波-.国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究)[J].时代汽车,2022(10):4-6
A类：
B类：
下车,车规级芯片,环境可靠性,可靠性试验,试验标准,标准研究,汽车芯片,总计,减产,万辆,黑天鹅,芯片产业,长周期,内难,新四化,汽车产业,芯片技术,技术突破,产业化发展,解决办法,汽车电子,电子产品,应标,芯片国产化
AB值：
0.365667
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
