典型文献
氩离子溅射锡氧化物及焊料合金的光电子能谱探究
文献摘要：
利用X射线光电子能谱(XPS)及深度剖析技术,定量研究了 SnO和SnO2在不同氩离子束能下化学损伤.0.5、1、2 keV的离子束能溅射后,SnO2无明显化学损伤;而SnO则出现不同程度的还原,分别产生了 7.0％、15.3％、20.6％的Sn单质.实验还表明,同离子束能不同电流下,Sn2+还原程度相差无几.因而利用XPS及深度剖析技术对Sn焊料进行表面分析时,须选用尽可能低的束能以减少化学损伤.定性讨论了 Sn价带,4d和3d电子层的图谱特征,并确定了用Sn 3d5图谱进行Sn价态的定量分析.利用获得的Sn0、Sn2+、Sn4+图谱参数,以模拟波峰焊的锡铜焊料为例,定量分析了 Sn价态随深度的变化,结果表明,氧化层最表面主要为SnO2并逐步过渡到SnO.
文献关键词：
X射线光电子能谱(XPS);深度剖析;氩离子溅射;锡氧化物;焊料合金
中图分类号：
作者姓名：
胡俊涛;赵明陆;杨士玉;蔡珊珊;刘晨;符泽卫
作者机构：
云南锡业集团(控股)有限责任公司研发中心,云南昆明650101;云南锡业锡材有限公司,云南昆明650217
文献出处：
引用格式：
[1]胡俊涛;赵明陆;杨士玉;蔡珊珊;刘晨;符泽卫-.氩离子溅射锡氧化物及焊料合金的光电子能谱探究)[J].冶金分析,2022(05):21-28
A类：
氩离子溅射,3d5
B类：
锡氧化物,焊料合金,光电子能谱,XPS,深度剖析,定量研究,SnO2,离子束,化学损伤,keV,明显化,单质,同离子,流下,Sn2+,相差无几,表面分析,用尽,价带,4d,电子层,图谱特征,价态,Sn0,Sn4+,谱参数,波峰焊,铜焊,氧化层,渡到
AB值：
0.341902
相似文献
机标中图分类号，由域田数据科技根据网络公开资料自动分析生成，仅供学习研究参考。
