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气密封装外壳内氢含量检测研究
文献摘要：
针对氢气作为气密性封装外壳中常见的内部气氛对电子元器件的性能、寿命及可靠性的破坏性影响,通过对封装外壳的材料及制造工艺进行分析,提出确定外壳内部氢气含量温度条件和时间条件的原则和方法,指导气密封装外壳内氢气含量的测试.
文献关键词：
气密封装外壳;氢含量;测试
中图分类号：
作者姓名：
李虹;刘雷;董一鸣
作者机构：
中国电子科技集团公司第五十五研究所
文献出处：
引用格式：
[1]李虹;刘雷;董一鸣-.气密封装外壳内氢含量检测研究)[J].信息技术与标准化,2022(11):56-60
A类：
气密封装外壳
B类：
氢含量,含量检测,气密性封装,内部气氛,电子元器件,寿命及可靠性,破坏性,制造工艺,氢气含量,温度条件,时间条件,导气
AB值：
0.254211
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