典型文献
光照恢复处理对采用不同封装材料的p型PERC双面光伏组件PID的影响
文献摘要：
根据IEC 61215:2021系列标准中的测试序列,在对p型PERC双面光伏组件进行PID测试后,再对其背面进行光照恢复处理,用于观察采用不同封装材料时该类光伏组件的输出功率衰减情况.当以EVA胶膜作为封装材料时,在光伏组件背面观察到2种PID机理,分别是因减反射/钝化层的极化引起的光伏组件输出功率衰减(PID-p)和因电化学腐蚀导致的光伏组件输出功率衰减(PID-c).测试结果表明:当p型PERC双面光伏组件采用EVA胶膜封装时,随着PID测试时间的延长,PID-c越来越严重;光照恢复处理后,PID-p造成的光伏组件输出功率衰减可以得到大幅恢复,但因PID-c导致的光伏组件输出功率衰减并未得到恢复;采用由高体积电阻率的ENGAGETM PV POE为原料生产的POE胶膜作为封装材料时,p型PERC双面光伏组件在不同测试条件下均始终保持非常低的输出功率衰减.研究结果也可进一步证实不同封装材料对光伏组件长期可靠性的影响并不会因为测试序列的更改而改变.
文献关键词：
p型PERC双面光伏组件;聚烯烃弹性体胶膜;电势诱导衰减;IEC61215:2021系列标准;长期稳定性
中图分类号：
作者姓名：
张文馨;孙亚斌;李宇岩
作者机构：
陶氏化学(中国)投资有限公司,上海 200012
文献出处：
引用格式：
[1]张文馨;孙亚斌;李宇岩-.光照恢复处理对采用不同封装材料的p型PERC双面光伏组件PID的影响)[J].太阳能,2022(04):50-57
A类：
输出功率衰减,ENGAGETM,聚烯烃弹性体胶膜,IEC61215
B类：
封装材料,PERC,双面光伏组件,PID,测试序列,背面,EVA,减反射,钝化层,电化学腐蚀,测试时间,减并,体积电阻率,PV,POE,原料生产,测试条件,始终保持,非常低,更改,电势诱导衰减,长期稳定性
AB值：
0.163263
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